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Yu Hongxin Teste Tecnologia (Shenzhen) Co., Ltd.
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Teste de corte da placa-mãe

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O laboratório de detecção SMT foca nas necessidades de detecção de componentes eletrônicos, que podem realizar testes completos das características da pasta de estanho, soldabilidade até defeitos internos da embalagem, como: teste de corte da placa-mãe, fusão de tecnologias não danificantes e destrutivas, como teste de raios-X, com bons instrumentos e análise detalhada, para fornecer uma forte garantia da qualidade do produto.
Detalhes do produto

O laboratório de detecção de componentes eletrônicos focado no SMT da EurHonxin permite realizar testes completos, desde as propriedades da pasta de estanho, soldabilidade até defeitos internos da embalagem, como:Teste de corte da placa-mãeA fusão de tecnologias não destrutivas e destrutivas, como testes de raios-X, com bons instrumentos e análises detalhadas, fornece uma forte garantia da qualidade do produto.

Utilização prática do teste de corte

Teste de corte da placa-mãeÉ um dos principais meios convencionais na inspeção de qualidade de componentes eletrônicos.

Inspeção de defeitos estruturais de PCB: problemas internos como estratificação de PCB, ruptura de cobre e outros, estes são invisíveis ao olho nu, mas são visíveis após a corte

Inspeção de qualidade de solda PCBA:

Verifique os problemas de solda vazia BGA, solda falsa, buracos, pontes e outros

Analisar se a área do estanho é adequada

Por exemplo, eu vi um caso antes, através de cortes encontrados no canto do furo do plug-in do PCB sem cobertura de estanho, levando a uma má cobertura de estanho

Análise da estrutura do produto:

Capacitante e análise de camadas de folha de cobre PCB

Análise estrutural LED

Análise do processo de galvanização

Análise de defeitos estruturais internos de materiais

Medição de tamanho pequeno: pode medir com precisão o tamanho do poro, a altura do estanho superior, a espessura da folha de cobre, etc. (geralmente maior do que o tamanho de 1 μm)

Verifique os resultados do teste sem danos: por exemplo, quando um raio-X ou um teste SAM detecta uma anomalia, use um corte para verificar se há realmente um problema

Dados que o teste de corte pode fornecer

O teste de corte não só mostra a estrutura interna, mas também fornece dados muito específicos:

Fotografia morfológica: demonstração clara da estrutura transversal após o corte

Dados do tamanho do defeito: comprimento da fissura, espessura da camada, tamanho do poro, etc.

Dados da qualidade da solda: altura do estaño superior, espessura da folha de cobre, qualidade do ponto de solda BGA, etc.

Dados de análise estrutural: como resultado da análise de camadas de capacitor e folha de cobre de PCB

Dados de validação de processo: para avaliar a conformidade do processo SMT

Como vazamento de capacitor, através de cortes, o capacitor tem uma rachadura de 45 °, que é a típica rachadura de tensão, localizando diretamente a raiz do problema.

O teste de corte tem uma característica: é um teste destrutivo, por isso geralmente é verificado após a detecção de aparência, exames de raios-X e outros testes não destrutivos descobrirem anomalias. É também por isso que o teste de corte dura mais tempo (pelo menos 2-3 dias), pois o movimento de colagem leva 4 horas.

Métodos específicos de análise de defeitos para testes de cortes

O teste de corte é um importante meio de inspeção de qualidade de componentes eletrônicos, com métodos de análise de defeitos muito ricos. Com base nas práticas da indústria, os métodos específicos são:

1. Análise de microobservação

Este é o método básico e comumente usado:

Observação do microscópio óptico (OM): usado para observar inicialmente o número de camadas do PCB, o layout da linha, a posição de instalação do componente, etc., pode detectar defeitos óbvios como quebra de linha, curto-circuito, ponto de solda e solda falsa.

Observação por microscópio metálico: oferece uma observação de maior magnificação para ver claramente a estrutura interna do ponto de solda e defeitos

Observação por microscópio estéreo: adequado para observar a estrutura geral e os defeitos macroscópicos da amostra

2. Microanálise eletrônica

Com o desenvolvimento tecnológico, a microanálise eletrônica tornou-se dominante:

Observação eletroscópica de varredura (SEM): fornece imagens de alta resolução que permitem ver claramente defeitos microscópicos

Análise espectroscópica de energia (EDS): para análises quantitativas de polarização elementar, como a detecção da distribuição de estanho, prata e cobre em pontos de solda

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